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北京四探針方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。 該儀器以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數。
更新時間：2024-10-17
產品型號：SN/ST-21
瀏覽量：1487
北京雙電測四探針測試儀 RTS-9型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合（亦稱雙位組合）測量新技術,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。
更新時間：2024-10-17產品型號：SN/RTS-9瀏覽量：857
北京單晶硅物理測試儀運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 a.s.t.m 標準而設計的，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。 儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析。
更新時間：2024-10-17產品型號：SN/RTS-4瀏覽量：936
北京數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。 儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析。
更新時間：2024-10-17產品型號：SN/RTS-8瀏覽量：1079
北京直流低電阻測試儀2513直流低電阻測試儀量程范圍為200 mΩ－2 kΩ，10 μA－100 mA的測試電流。適用于小型變壓器及電感線圈銅阻, 繼電器接觸電阻, 開關, 接插件接觸電阻, 導線電阻, 元件焊點接觸電阻印制板線條及焊孔電阻、金屬探傷等。
更新時間：2024-10-17產品型號：SN/2513瀏覽量：849
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